【神奈川】ナノレベル分析技術者(透過型電子顕微鏡・受託分析)

東芝ナノアナリシス株式会社

情報提供元
電話面談も可能

その他半導体

【神奈川】ナノレベル分析技術者(透過型電子顕微鏡・受託分析)

東芝ナノアナリシス株式会社 [人材紹介求人]

  • 正社員
  • 神奈川県

掲載開始日:2026/09/17 更新日:2026/09/18

仕事内容

【仕事内容】

同社は半導体、液晶、金属、新素材など幅広いマーケットに対しナノレベルの分析サービスを提供しており、受託分析をメインとしています。

主な業務は顧客が抱える不具合の原因究明を通じてものづくりを支えることです。



透過型電子顕微鏡(TEM)および集束イオンビーム(FIB)を用いて半導体製品の開発および量産品の評価を行います。

各種材料分析や製品解析を実施します。

電子顕微鏡を用いた構造解析から元素分析まで行い、デバイスメーカーで培った経験豊かな技術でお客様の技術・開発を支援します。



【配属先情報】

配属先の解析チームは現在32名体制(正社員21名、派遣社員11名)です。



【入社後の研修制度やフォロー体制】

入社後はOJTや分析の基礎技術を習得するためのシステムを通じて業務をマスターしていただきます。



【本ポジションの魅力ややりがい】

同社が国内唯一で保有する3次元アトムプローブ受託分析などの高度な分析技術に携わることができます。

キオクシア株式会社の新製品開発の分析に関わるなど、最新技術の開発支援を行い、顧客のものづくりを根幹から支える仕事です。

学会発表や論文執筆、大学との共同研究にも携われるため研究開発としてのやりがいもあります。

【変更の範囲】
無し

募集要項

雇用形態
正社員
年収・給与
年収 450万円 ~ 500万円
休日・休暇
仕事内容参照
勤務地
仕事内容参照

【変更の範囲】
無し
契約期間
契約期間の定め:無し
求める経験・スキル
~業界未経験歓迎~

【必須条件】下記いずれかを用いた物理解析経験

透過型電子顕微鏡(TEM)

集束イオンビーム(FIB)
職種分類
技術系(素材、食品、メディカル) > セールスエンジニア(素材・半導体素材・化成品)
事業内容
半導体製品、FPD、電子部品およびそれらの品質信頼性評価用ユニットの故障解析、構造解析、材料分析、インプロセスQC関連分析、プロセス評価、清浄化評価、化学分析および評価

金属、セラミックス、液晶、高分子材料、新素材、原子力材料の物理分析、化学分析および評価

作業環境測定およびナノマテリアル環境評価、医療、医薬を支援する封じ込め性能評価や抗がん剤汚染評価
リモートワーク
未選択

エージェント情報

社名
株式会社マイナビ
情報提供元:
電話面談も可能

「気になる求人リスト」を使うには、無料会員登録が必要です。

会員登録