【仕事内容】

同社のリーダー候補として、主に透過型電子顕微鏡（TEM）や集束イオンビーム（FIB）を用いて半導体製品の開発および量産品の評価を担当していただきます。



半導体製品の微細構造解析および材料分析、製品の不具合原因究明を実施します。

原子間力顕微鏡や二次イオン質量分析によるナノスケールの表面形状の3次元可視化や数値化を行い、国内唯一の3次元アトムプローブ受託分析など高度な分析技術を駆使します。

顧客であるデバイスメーカーの技術開発を電子顕微鏡による構造解析、元素分析を通じてサポートします。

学会発表や論文執筆、大学との共同研究、キオクシア株式会社の新製品開発の分析業務にも携わります。



※OJTや基礎分析技術習得のためのシステムを活用して業務を習得していただきます。



【配属先情報】

現在の配属先は、社員21名と派遣11名の計32名が在籍しており、解析チームとして活動しています。



【入社後の研修制度やフォロー体制】

入社後はOJTと分析基礎技術習得用のシステムを活用し業務を段階的にマスターできる環境です。



【本ポジションの魅力ややりがい】

業界トップクラスの半導体メモリ分析解析技術を持つ同社での最先端技術に触れられます。

国内唯一の3次元アトムプローブ分析をはじめ高度分析技術を活用して分析業務に従事できます。

キオクシア株式会社の新製品開発に直接関わることで、最先端ものづくりへの貢献が可能です。

学会発表や論文執筆、大学との共同研究など受託分析に留まらず技術開発にも携われます。

【変更の範囲】
無し