実験・評価(電気)
【三重】電子顕微鏡分析技術者(半導体デバイスのSEM・TEM・FIB解析)
東芝ナノアナリシス株式会社 [人材紹介求人]
- 正社員
- 三重県
掲載開始日:2026/09/17 更新日:2026/09/18
仕事内容
【仕事内容】
半導体、液晶、金属、新素材を中核とした幅広いマーケットに最適なナノレベルの分析サービスを提供している同社において、走査型電子顕微鏡(SEM)、透過型電子顕微鏡(TEM)、集束イオンビーム(FIB)を用いた半導体デバイスの解析を担当していただきます。
半導体製品の開発および量産品の評価、各種材料分析、製品解析をSEM・TEM・FIBを用いて実施します。
電子顕微鏡による構造解析および元素分析を行い、お客様の技術開発を支援します。
※入社後はOJTや分析の基礎技術習得のためのシステムを活用し、業務をマスターしていただきます。
【配属先情報】
配属先は四日市解析技術センターの約50名程度の部門で、同センター全体では115名(社員56名、派遣59名)が在籍しています。
平均年齢は40代前半で、20~30代の方も活躍しています。
【入社後の研修制度やフォロー体制】
入社後はOJTや分析の基礎技術を習得するためのシステムを通じて業務を習得していただきます。
【本ポジションの魅力ややりがい】
同社は半導体メモリの分析解析で業界トップクラスの技術を有しており、国内唯一の3次元アトムプローブ受託分析など先進的技術にも携われます。
キオクシアの新製品開発の分析や大学との共同研究など、新しい技術開発に参画できる技術開発型分析会社ですので、専門性を磨きながら最先端分析に挑戦できるやりがいのある職場です。
【変更の範囲】
無し
募集要項
- 雇用形態
- 正社員
- 年収・給与
- 年収 450万円 ~ 500万円
- 休日・休暇
- 仕事内容参照
- 勤務地
- 仕事内容参照
【変更の範囲】
無し
- 契約期間
- 契約期間の定め:無し
- 求める経験・スキル
- ~業界未経験歓迎/SEM・TEM経験を活かしたい方 歓迎!~
【必須条件】下記いずれかを用いた物理解析経験
走査型電子顕微鏡(SEM)
透過型電子顕微鏡(TEM)
集束イオンビーム(FIB)
- 職種分類
- 技術系(電気、電子、機械) > その他電気電子機械技術者
- 事業内容
- 半導体製品、FPD、電子部品およびそれらの品質信頼性評価用ユニットの故障解析、構造解析、材料分析、インプロセスQC関連分析、プロセス評価、清浄化評価、化学分析および評価
金属、セラミックス、液晶、高分子材料、新素材、原子力材料の物理分析、化学分析および評価
作業環境測定およびナノマテリアル環境評価、医療、医薬を支援する封じ込め性能評価や抗がん剤汚染評価
- リモートワーク
- 未選択
エージェント情報
- 社名
- 株式会社マイナビ